皇晶科技推出全新的专业4G采样多通道逻辑分析仪——LA4000系列。这款全新产品继承了LA3000+的精髓,并在多个方面进行了升级,提供更高效的信号分析解决方案。LA4000的推出旨在为工程师和设计师提供一个更先进、更灵活的工具,以应对不断演进的电子设计和测试挑战。它不仅是LA3000+的升级版,更是一个全新的时代,为用户带来更卓越的性能和更丰富的功能体验。
【LA4000主要特点】
• 更高性能: LA4000提供强大的时序分析和状态分析能力,分别达到4GHz和400MHz,以应对复杂的信号环境。
• 多通道选择: 提供多种型号,包括68通道和136通道,以满足不同应用场景下的通道需求。
• 大容量内存: 配备32Gb总内存,有助于捕获和分析大量数据,确保全面的数据覆盖。
• 广泛的通信协议支持: 提供100余种通信协议解码,支持范围从基础的I²C、I3C、SPI等等到高速的eSPI、eMMC 5.1、NAND Flash、SPI-NAND。
• 图像化多条件触发选项: 16级Parallel IF Clause触发设置,提供128/64通道数值比较配合AND/OR条件运算及4组Timer/Counter条件。此功能适合多通道ADC量测,帮助用户更快速地定位封包位置。
• 灵活的硬件触发选项: 具有多个通信协议触发选项,LA4068B/LA4136B支持包括SPI、eMMC 4.5、eSPI、NAND Flash、Serial Flash (SPI NAND)等,用户能够针对特定条件进行准确触发。
• 即时的数据监控: 提供10余种通信协议分析,硬件解码,不带波形,可以长时间保存协议数据。
• 可靠的信号品质: LA4000保留了主动探针和支持堆叠示波器的功能,确保用户在测试和分析过程中获得更高效、更可靠的结果。
• 先进的USB 3.0接口: 使用USB 3.0接口连接到PC,确保高速数据传输和快速操作。
【LA4000对比LA3000+:全方位升级】
- 更高性能: LA4000的时序分析和状态分析性能得到了显著提升,分别达到4GHz和400MHz,相比之下,LA3000+的2.4GHz和300MHz逐渐显得不足以应对当前应用的要求。
- 通道升级: LA4000支持更多的转态储存通道数,在时序分析2.4GHz应用中,可使用32通道,LA3000+只能使用28通道。更卓越的性能带来更广泛的数据捕获能力,用户能够更全面地分析复杂的信号,并长时间储存。
- 更大的耐压能力: LA4000的最大非破坏性耐压达到了±40V,相较之下,LA3000+为±15V。这一提升意味着更大的适应性,更广泛的应用范围。
- 更广的输入电平: LA4000提供宽广的输入电平工作范围,为±15V,相比之下,LA3000+仅为从-0.5V到+4.5V。这一升级确保LA4000在更多的应用场景中都能够灵活应对不同的电平需求。
- 更高的触发电平分辨率: LA4000的触发电平分辨率提高到了10mV,而LA3000+为21mV,使得用户能够更精确地捕获信号的变化。触发电平分辨率数值越小越好。
- 与LA3000+兼容性: LA4000搭载4G探针,提供独有功能的同时,仍保有对2.4G探针的完整兼容性。用户不仅可以在LA4000上使用LA3000+的旧有配件,同时在LA3000+上使用LA4000的2.4G探针,实现硬件升级的无缝过渡。这一设计保证用户在新旧设备之间灵活转换,充分发挥硬件资源,提升使用的便捷性和灵活性。
LA4136E/B 主机
270 x 175 x 55 (mm³)
LA4068E/B 主机
270 x 175 x 55 (mm³)
LA4000 LA-POD2
LA4000 4G-POD
【LA3000+与LA4000规格差异】
产品 |
LA3000+ |
LA4000 |
|
型号 |
LA3068E+, LA3136E+, LA3068B+, LA3136B+ |
LA4068E, LA4136E, LA4068B, LA4136B |
通道数 |
68 (64 data and 4 clock) or
136 (128 data and 8 clock) |
68 (64 data and 4 clock) or
136 (128 data and 8 clock) |
时序分析 |
2.4GHz |
4GHz |
状态分析 |
300MHz |
400MHz |
时序分析2.4GHz
可使用转态存储通道数 |
28 ch |
32 ch |
探针 (LA-POD)
|
LA-POD [1] |
LA-POD2 [2] |
LA4G-POD [2] |
单支探针通道数 |
32 ch |
32 ch |
16 ch |
前端衰减倍率 |
2X |
10X |
10X |
输入电平阻抗 |
1M || 5pF to 0V |
55K || 2pF to ~1V |
55K || 2pF to ~1V |
非破坏性最大耐压 |
±15V |
±40V |
±40V |
输入电平工作范围 |
-0.5~+4.5V |
±15V |
±15V |
输入电平灵敏度 |
~300mV
|
~300mV |
~300mV |
触发电平范围 |
-0.5V~+4.5V
|
±15V |
±15V |
触发电平分辨率 |
21mV |
10mV |
10mV |
相位误差 |
< 500ps
|
< 500ps |
250ps |
[1] For LA3000+ series
[2] For LA4000 series
【选配探针】
探针 |
LVDS Probe |
|
|
1*LVDS-Tip、2*LA09-Tip、1*LA08-Tip |
Tip |
LVDS |
LA08 / LA09 |
通道组合 |
8-Diff |
8 Data / 8 Data+1 CLK |
触发电平 范围 |
- |
-0.5V~4.8V |
触发电平 分辨率 |
- |
21mV |
触发电平 精度 |
- |
±100mV + 5% *Vth |
输入电平 非破坏性最大耐压 |
-0.5V ~ +4.6V
DC+AC peak |
±15V
DC+AC peak |
输入电平工作范围 |
0V ~ 3.3V |
-1V~8V |
输入电平灵敏度 |
~100mV |
~300mV |
输入电平阻抗 |
75K Ω || 3pF |
1MΩ || 5pF |
LA4000 LVDS Probe
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